SPM Microscopes à champ proche
La Microscopie à Champ proche (SPM) a été la première technologie qui a permis l'observation directe d'atomes. De nos jours, c'est encore un des techniques les plus couramment utilisées pour la caractérisation des surfaces.
La Microscopie à Force Atomique (AFM) et la Microscopie à Effet Tunnel (STM) sont des instruments indispensables pour des mesures topographiques 3D et la caractérisation physique des surfaces aux échelles micro- et nanométriques.
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